RB-LT1000系列大功率半導體激光芯片器件老化/壽命測試機
驅動電流
0.1--20A
供電要求
210-230V AC 25A/50Hz
溫度控制
TEC+水冷
功率測量
0-20W
光譜測量
350-1100nm或900-1700nm
設備尺寸
1360mm*2100mm*694mm
產品介紹
產品概要：
在可控溫度的工作臺上，對封裝之后（COS、TO56、C-mount、F-mount、CCP、Butter-fly等封裝形式）的半導體激光芯片器件進行。
-對貼片好的大功率COS、C-mount、TO封裝模塊實現長期壽命測試和短期老化測試
-長期壽命測試型： 可對100個器件同時做加速壽命測試，對每個器件監測光功率和波長
-短期老化型：可對250個器件同時做短期老化測試, 不監測光功率和波長
-混合型： 業界首個兼顧長期壽命測試和短期老化測試的設備
-標準電流范圍0-18A （總負載功率比較小的情況下，最大電流可以到30A）
產品特點：
-集成度高（可同時進行100pcs大功率激光芯片的測試）
-實時監控和記錄每工位激光芯片的狀態：激光功率、峰值波長、光譜寬度
-優良的內部潔凈環境（百級-千級）
-良好的安全防護及故障提醒機制
-實時監控和記錄設備的工作狀態：多點位置溫度、冷卻水流量、電源電流&電壓
-友好的人機交互界面，操作簡單，易于使用
-提供脫機老化數據分析的專用軟件
-測試過程中，提供老化測試的停止和重新開啟功能
-可靈活增加、減少激光芯片的數量，每個激光芯片的老化時間獨立累計
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